SIOM OpenIR  > 高密度光存储技术实验室
深亚微米光记录测试仪
陈仲裕; 沈俊
2003
Source Publication测试技术学报
Issue4Pages:334
Abstract详细描述了进行亚微米、深亚微米光记录和探测的测试仪器,其探测功率可达30mW,最小的探测时间为20ns,探测的最小光点200nm左右,带有CCD观察的系统可方便地定位及进行图像处理,整个测量过程均在计算机控制下进行,操作非常方便.它是对高密度光盘材料记录性能进行测量,以及对深亚微米,乃至纳米记录材料进行研究的有效工具.
SubtypeArticle
Funding Organization国家自然科学基金会资助(项目号:59832060) ; 国家自然科学基金会资助(项目号:59832060)
Indexed ByCSCD
Language中文
Funding Organization国家自然科学基金会资助(项目号:59832060) ; 国家自然科学基金会资助(项目号:59832060)
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Document Type期刊论文
Version出版稿
Identifierhttp://ir.siom.ac.cn/handle/181231/18176
Collection高密度光存储技术实验室
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GB/T 7714
陈仲裕,沈俊. 深亚微米光记录测试仪[J]. 测试技术学报,2003(4):334.
APA 陈仲裕,&沈俊.(2003).深亚微米光记录测试仪.测试技术学报(4),334.
MLA 陈仲裕,et al."深亚微米光记录测试仪".测试技术学报 .4(2003):334.
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